Ieee Electron Device Letters雜志影響因子查詢入口?

《Ieee Electron Device Letters》雜志影響因子:4.1。

期刊Ieee Electron Device Letters近年評價數據趨勢圖

期刊影響因子趨勢圖

以下是一些常見的影響因子查詢入口:

(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權威平臺,收錄全球高質量學術期刊,提供詳細的期刊引證報告,包括影響因子、分區、被引頻次等關鍵指標。

(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個網站,提供了期刊影響因子、引用數據和相關指標。用戶可以在該網站上查找特定期刊的影響因子信息。

(3)中科院SCI期刊分區表:提供中科院分區的期刊數據查詢,包括影響因子和分區信息。

《Ieee Electron Device Letters》雜志是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以工程技術-工程:電子與電氣為研究方向,OA非開放(Not Open Access)的國際優秀期刊。

該雜志出版語言為English,創刊于1980年。自創刊以來,已被SCIE(科學引文索引擴展板)等國內外知名檢索系統收錄。該雜志發表了高質量的論文,重點介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實踐中的理論、研究和應用。

?學術地位:在JCR分區中位列Q2區,中科院分區為工程技術大類2區,ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣小類2區。

期刊發文分析

機構發文量統計
機構 發文量
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES 84
UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM 70
XIDIAN UNIVERSITY 56
NATIONAL YANG MING CHIAO TUNG UNIVERSITY 49
HONG KONG UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLO... 48
PEKING UNIVERSITY 42
UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE & TECHNOL... 42
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT... 36
IMEC 35
NATIONAL SUN YAT SEN UNIVERSITY 35
國家 / 地區發文量統計
國家 / 地區 發文量
CHINA MAINLAND 577
USA 282
South Korea 174
Taiwan 123
Japan 65
England 60
India 49
Belgium 37
GERMANY (FED REP GER) 37
France 32
期刊引用數據次數統計
期刊引用數據 引用次數
IEEE ELECTR DEVICE L 1317
IEEE T ELECTRON DEV 865
APPL PHYS LETT 812
J APPL PHYS 318
ADV MATER 217
NANO LETT 150
ACS APPL MATER INTER 142
SCI REP-UK 138
NATURE 132
APPL PHYS EXPRESS 119
期刊被引用數據次數統計
期刊被引用數據 引用次數
IEEE T ELECTRON DEV 1587
IEEE ELECTR DEVICE L 1317
JPN J APPL PHYS 594
APPL PHYS LETT 460
IEEE J ELECTRON DEVI 445
APPL PHYS EXPRESS 366
SEMICOND SCI TECH 277
J APPL PHYS 268
SOLID STATE ELECTRON 257
ECS J SOLID STATE SC 249
文章引用數據次數統計
文章引用數據 引用次數
Enhancement-Mode Ga2O3 Vertical Transistor... 38
An Artificial Neuron Based on a Threshold ... 36
Recessed-Gate Enhancement-Mode beta-Ga2O3 ... 28
Spin Logic Devices via Electric Field Cont... 27
Current Aperture Vertical beta-Ga2O3 MOSFE... 27
beta-Ga2O3 Delta-Doped Field-Effect Transi... 26
Vertical Ga2O3 Schottky Barrier Diodes Wit... 24
1.85 kV Breakdown Voltage in Lateral Field... 24
Vertical Ga(2)O(3 )Schottky Barrier Diodes... 23
First Demonstration of a Logic-Process Com... 22
Ieee Electron Device Letters雜志

Ieee Electron Device Letters

出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

研究方向:工程技術-工程:電子與電氣

中科院分區:2區,JCR分區:Q2

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