《Ieee Electron Device Letters》雜志影響因子:4.1。
期刊Ieee Electron Device Letters近年評價數據趨勢圖
期刊影響因子趨勢圖
以下是一些常見的影響因子查詢入口:
(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權威平臺,收錄全球高質量學術期刊,提供詳細的期刊引證報告,包括影響因子、分區、被引頻次等關鍵指標。
(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個網站,提供了期刊影響因子、引用數據和相關指標。用戶可以在該網站上查找特定期刊的影響因子信息。
(3)中科院SCI期刊分區表:提供中科院分區的期刊數據查詢,包括影響因子和分區信息。
《Ieee Electron Device Letters》雜志是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以工程技術-工程:電子與電氣為研究方向,OA非開放(Not Open Access)的國際優秀期刊。
該雜志出版語言為English,創刊于1980年。自創刊以來,已被SCIE(科學引文索引擴展板)等國內外知名檢索系統收錄。該雜志發表了高質量的論文,重點介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實踐中的理論、研究和應用。
?學術地位:在JCR分區中位列Q2區,中科院分區為工程技術大類2區,ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣小類2區。
期刊發文分析
機構發文量統計
機構 | 發文量 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 84 |
UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM | 70 |
XIDIAN UNIVERSITY | 56 |
NATIONAL YANG MING CHIAO TUNG UNIVERSITY | 49 |
HONG KONG UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLO... | 48 |
PEKING UNIVERSITY | 42 |
UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE & TECHNOL... | 42 |
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT... | 36 |
IMEC | 35 |
NATIONAL SUN YAT SEN UNIVERSITY | 35 |
國家 / 地區發文量統計
國家 / 地區 | 發文量 |
CHINA MAINLAND | 577 |
USA | 282 |
South Korea | 174 |
Taiwan | 123 |
Japan | 65 |
England | 60 |
India | 49 |
Belgium | 37 |
GERMANY (FED REP GER) | 37 |
France | 32 |
期刊引用數據次數統計
期刊引用數據 | 引用次數 |
IEEE ELECTR DEVICE L | 1317 |
IEEE T ELECTRON DEV | 865 |
APPL PHYS LETT | 812 |
J APPL PHYS | 318 |
ADV MATER | 217 |
NANO LETT | 150 |
ACS APPL MATER INTER | 142 |
SCI REP-UK | 138 |
NATURE | 132 |
APPL PHYS EXPRESS | 119 |
期刊被引用數據次數統計
期刊被引用數據 | 引用次數 |
IEEE T ELECTRON DEV | 1587 |
IEEE ELECTR DEVICE L | 1317 |
JPN J APPL PHYS | 594 |
APPL PHYS LETT | 460 |
IEEE J ELECTRON DEVI | 445 |
APPL PHYS EXPRESS | 366 |
SEMICOND SCI TECH | 277 |
J APPL PHYS | 268 |
SOLID STATE ELECTRON | 257 |
ECS J SOLID STATE SC | 249 |
文章引用數據次數統計
文章引用數據 | 引用次數 |
Enhancement-Mode Ga2O3 Vertical Transistor... | 38 |
An Artificial Neuron Based on a Threshold ... | 36 |
Recessed-Gate Enhancement-Mode beta-Ga2O3 ... | 28 |
Spin Logic Devices via Electric Field Cont... | 27 |
Current Aperture Vertical beta-Ga2O3 MOSFE... | 27 |
beta-Ga2O3 Delta-Doped Field-Effect Transi... | 26 |
Vertical Ga2O3 Schottky Barrier Diodes Wit... | 24 |
1.85 kV Breakdown Voltage in Lateral Field... | 24 |
Vertical Ga(2)O(3 )Schottky Barrier Diodes... | 23 |
First Demonstration of a Logic-Process Com... | 22 |