《Ieee Access》雜志影響因子:3.4。
期刊Ieee Access近年評價數據趨勢圖
期刊影響因子趨勢圖
以下是一些常見的影響因子查詢入口:
(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權威平臺,收錄全球高質量學術期刊,提供詳細的期刊引證報告,包括影響因子、分區、被引頻次等關鍵指標。
(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個網站,提供了期刊影響因子、引用數據和相關指標。用戶可以在該網站上查找特定期刊的影響因子信息。
(3)中科院SCI期刊分區表:提供中科院分區的期刊數據查詢,包括影響因子和分區信息。
《Ieee Access》雜志是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMSENGIN-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC為研究方向,OA開放獲取(Open Access)的國際優秀期刊。
該雜志出版語言為English,創刊于2013年。自創刊以來,已被SCIE(科學引文索引擴展板)等國內外知名檢索系統收錄。該雜志發表了高質量的論文,重點介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實踐中的理論、研究和應用。
?學術地位:在JCR分區中位列Q2區,中科院分區為計算機科學大類3區,ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣小類3區。
期刊發文分析
國家 / 地區發文量統計
國家 / 地區 | 發文量 |
CHINA MAINLAND | 25150 |
USA | 3703 |
South Korea | 2921 |
England | 1845 |
Saudi Arabia | 1506 |
Pakistan | 1412 |
Australia | 1321 |
Spain | 1252 |
Canada | 1181 |
Taiwan | 1040 |
期刊引用數據次數統計
期刊引用數據 | 引用次數 |
IEEE ACCESS | 18630 |
IEEE T IND ELECTRON | 5685 |
IEEE T VEH TECHNOL | 5054 |
IEEE T IMAGE PROCESS | 4888 |
IEEE T PATTERN ANAL | 4700 |
IEEE T ANTENN PROPAG | 4542 |
IEEE T WIREL COMMUN | 4381 |
IEEE T SIGNAL PROCES | 3981 |
IEEE COMMUN MAG | 3601 |
IEEE T POWER ELECTR | 3522 |
期刊被引用數據次數統計
期刊被引用數據 | 引用次數 |
IEEE ACCESS | 18630 |
SENSORS-BASEL | 1750 |
APPL SCI-BASEL | 848 |
IEEE INTERNET THINGS | 769 |
ELECTRONICS-SWITZ | 746 |
IEEE T VEH TECHNOL | 724 |
ENERGIES | 603 |
FUTURE GENER COMP SY | 456 |
IEEE COMMUN SURV TUT | 402 |
IEEE T COMMUN | 376 |
文章引用數據次數統計
文章引用數據 | 引用次數 |
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